3D线激光轮廓测量仪(LE-8000系列)：

▲测量原理：

半导体激光器发出的光東照在目标物上;接收镜头聚集目标表面漫反射/镜面反射的光线并在COMS感光元件上聚焦。当与目标物的距离产生变化时,感光元件上的光斑位置也会产生同步的变化。通过检测位置的变化测量位移。

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▲专业光学系统,超高精度测量,轮廓点数高达4096个点；

LE-8000系列改进了相机硬件和机械设计,优化散热、轻量化体积和增强机械刚性,采用先进非球面镜片、特殊光学涂层和光源投射技术,提升光学成像性能,实现高分辨率、低畸变和图像细节处理,提高光照强度,确保光斑均匀分布,大幅提升三维测量精度。

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▲超高速采样49000轮廓/秒；

High Speed CMOs兼具高速高动态范围,同时高性能FPGA及IC专用处理芯片,Y轴ROI模式下采样速度最高可达49KHz。

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▲智能数据预处理算法功能；

LE-8000系列支持原生单帧HDR和多帧HDR合成,能够更好地适应不同场景的光照变化、反射率不均等情况。高效数据预处理算法能执行滤波、降噪和数据分割等任务,具备形状保持过滤功能和轮廓对齐处理功能。

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▲无惧大区域检测,检测精度依旧稳如泰山；

即便检测区域较大,仍然可以确保X轴和Y轴的检测精度,应用场景更广泛。